XRD یا همان پراش اشعه ایکس (X-Ray Diffraction) تکنیکی قدیمی و پرکابرد در بررسی خصوصیات کریستالها میباشد. در این روش از پراش اشعه ایکس توسط نمونه جهت بررسی ویژگی های نمونه استفاده می شود. XRD برای تعیین عموم کمیات ساختار کریستالی از قبیل ثابت شبکه، هندسه شبکه، تعیین کیفی مواد ناشناس، تعیین فاز کریستالها، تعیین اندازه کریستالها، جهت گیری تک کریستال، استرس، تنش، عیوب شبکه وغیره، قابل استفاده میباشد. XRD تکنیکی کم هزینه و پر کاربرد میباشد. علت این امر اصول فیزیکی سادهیِ این شیوه میباشد. اطلاعات بدست آمده از پراش اشعه ایکس که شامل زاویهِی ماکسیمم شدت اشعه پراشیده شده، شدت اشعه پراشیده شده در هر زاویه و پهنای هر ماکسیمم میباشد وابسته به طیف وسیعی از خصوصیات و کمیات کریستالها میباشد. این امر کاربرد فراوان XRD را به همراه دارد. از جمله محاسن XRD عدم نیاز به خلاء میباشد که باعث کاهش هزینهی ساخت میشود و آن را در مکانی برتر نسبت به تکنیکهای الکترونی قرار میدهد. همچنین XRD تکنیکی غیر تماسی و غیر مخرب میباشد و نیاز به آماده سازی سخت و مشکل ندارد.
