Warning: Cannot modify header information - headers already sent by (output started at /home3/fidarsh1/public_html/index.php:1) in /home3/fidarsh1/public_html/wp-includes/feed-rss2.php on line 8
https://fidarshimi.com تجهیزات آزمایشگاهی و تحقیقاتی Sat, 24 Apr 2021 06:00:56 +0000 fa-IR hourly 1 https://wordpress.org/?v=6.0.11 https://fidarshimi.com/wp-content/uploads/2020/09/cropped-Logo-Fidar-Shimi-Jaam-32x32.png https://fidarshimi.com 32 32 https://fidarshimi.com/%d9%81%d9%84%d9%88%d8%a6%d9%88%d8%b1%d8%b3%d8%a7%d9%86%d8%b3-%d9%be%d8%b1%d8%a7%d8%b4-%d8%a7%d8%b4%d8%b9%d9%87-%d8%a7%db%8c%da%a9%d8%b3-xrf/ https://fidarshimi.com/%d9%81%d9%84%d9%88%d8%a6%d9%88%d8%b1%d8%b3%d8%a7%d9%86%d8%b3-%d9%be%d8%b1%d8%a7%d8%b4-%d8%a7%d8%b4%d8%b9%d9%87-%d8%a7%db%8c%da%a9%d8%b3-xrf/#respond Tue, 16 Feb 2021 13:36:08 +0000 http://tgmweb.ir/fidar/?p=247 طیف سنج فلوئورسانس اشعه ایکس X-Ray Fluorescence Spectroscopy از جمله تجهیزات آنالیز عنصری است که از آن به طور وسیعی در صنعت و مراکز پژوهشی استفاده می‌ شود. طیف سنجی فلورسانس اشعه ایکس XRF توانایی انجام آنالیز عنصری نمونه‌های معدنی مانند نمونه‌های زمین‌شناسی ، کانی‌ها ، سنگ‌ها ، شیشه ، سیمان ، سرامیک‌ها ، آلیاژهای فلزی و غیره را دارد. در اسپکتروسکوپی فلوئورسانس پرتو ایکس XRF از پرتو ایکس برای تجزیه لایه‌ های سطحی استفاده می ‌شود. در اثر تابش اشعه ایکس و برانگیختگی نمونه، انتقال الکترونی در لایه ‌های مختلف اتم انجام می ‌شود که هر انتقال الکترونی همراه با نشر یک خط طیفی اشعه ایکس است. طول موج خطوط طیفی نشر شده مبنای تجزیه کیفی عناصر و شدت پرتوها، متناسب با فراوانی یا کمیت عناصر موجود در نمونه است.
طیف سنجی فلورسانس اشعه ایکس XRF به دو نوع WDS و EDS تقسیم بندی می شود. پس از تابش پرتو ایکس به نمونه مجهول و در اثر برانگیختگی اتم‌ها پرتو ایکس ثانویه پدید می آیند که با تعیین طول موج ( روش WDS ) یا انرژی ( روش EDS ) آن ها ، می توان عنصر یا عناصر مورد نظر موجود در نمونه را شناسایی نمود.

]]> https://fidarshimi.com/%d9%81%d9%84%d9%88%d8%a6%d9%88%d8%b1%d8%b3%d8%a7%d9%86%d8%b3-%d9%be%d8%b1%d8%a7%d8%b4-%d8%a7%d8%b4%d8%b9%d9%87-%d8%a7%db%8c%da%a9%d8%b3-xrf/feed/ 0 https://fidarshimi.com/%d9%be%d8%b1%d8%a7%d8%b4-%d8%a7%d8%b4%d8%b9%d9%87-%d8%a7%db%8c%da%a9%d8%b3-xrd/ https://fidarshimi.com/%d9%be%d8%b1%d8%a7%d8%b4-%d8%a7%d8%b4%d8%b9%d9%87-%d8%a7%db%8c%da%a9%d8%b3-xrd/#respond Tue, 16 Feb 2021 13:33:13 +0000 http://tgmweb.ir/fidar/?p=244 XRD یا همان پراش اشعه ایکس (X-Ray Diffraction) تکنیکی قدیمی و پرکابرد در بررسی خصوصیات کریستال‌ها می‌باشد. در این روش از پراش اشعه ایکس توسط نمونه جهت بررسی ویژگی های نمونه استفاده می شود. XRD برای تعیین عموم کمیات ساختار کریستالی از قبیل ثابت شبکه، هندسه شبکه، تعیین کیفی مواد ناشناس، تعیین فاز کریستال‌ها، تعیین اندازه کریستا‌ل‌ها، جهت گیری تک کریستال، استرس، تنش، عیوب شبکه وغیره، قابل استفاده می‌باشد. XRD تکنیکی کم هزینه و پر کاربرد می‌باشد. علت این امر اصول فیزیکی ساده‌یِ این شیوه می‌باشد. اطلاعات بدست آمده از پراش اشعه ایکس که شامل زاویهِ‌ی ماکسیمم شدت اشعه پراشیده شده، شدت اشعه پراشیده شده در هر زاویه و پهنای هر ماکسیمم می‌باشد وابسته به طیف وسیعی از خصوصیات و کمیات کریستال‌‌ها می‌باشد. این امر کاربرد فراوان XRD را به همراه دارد. از جمله محاسن XRD عدم نیاز به خلاء می‌باشد که باعث کاهش هزینه‌ی ساخت می‌شود و آن را در مکانی برتر نسبت به تکنیک‌های الکترونی قرار می‌دهد. همچنین XRD تکنیکی غیر تماسی و غیر مخرب می‌باشد و نیاز به آماده سازی سخت و مشکل ندارد.

]]> https://fidarshimi.com/%d9%be%d8%b1%d8%a7%d8%b4-%d8%a7%d8%b4%d8%b9%d9%87-%d8%a7%db%8c%da%a9%d8%b3-xrd/feed/ 0